X izpiko mikroskopioa
Atomoak mikroskopio elektroniko berezien bidez ikusten dira gaur egun, baina egoera jakin batzuetan baino ezin dira erabili. Eta askok X izpietan jarri dute atomo guztiak ikusteko itxaropena. Stanford Unibertsitateko ikertzaileen mikroskopio berriak aseko ditu agian itxaropen horiek. Gailuak X izpiekin lan egiten du eta materialen egitura lokalak ikustea ahalbidetu du. Mota honetako lehen mikroskopioa 1999an garatu zuen ikertzaile-talde berak. Ordukoak bi dimentsioko irudiak jasotzen zituen eta 70 nanometroko (nm) bereizmena zuen.
Physical Review Letters aldizkarian aurkeztu dutenak, aldiz, hamar bider txikiagoak diren egiturak ikus ditzake bi dimentsiotan, eta 50 nm-ko bereizmena du hirutan. Gaitasun horrekin mikroskopioa gai da 8 nm-ko egiturak bereizteko. Oraindik ez ditu atomoak ikusten, baina X izpien intentsitatea handituz edo esposizio-denbora luzatuz, ikertzaileek uste dute helburua lortuko dutela. Kontua da lagin guztiak ezin direla luzaroan bonbardatu. Material sendoak, erdieroaleak esaterako, bai; zelulak ez, ordea. Intentsitate handiko X izpiko laserrak egokiagoak izango dira, baina garatze-bidean daude.
Zu idazle
Zientzia aldizkaria
